Недавно группа под руководством профессоров Ван Жуцзина и Ван Люсаня из Хэфэйского института физических наук Китайской академии наук разработала метод обнаружения внутренних трещин в семенах риса с помощью спектроскопии в ближнем инфракрасном диапазоне.
«Трещины могут повлиять на скорость прорастания семян», — сказал Ван Люсан. «Наше исследование может помочь отобрать высококачественные семена неразрушающим методом».
Результаты исследования опубликованы в журнале Spectrochimica Acta Часть A: Молекулярная и биомолекулярная спектроскопия.
В сельскохозяйственном производстве качество семян риса напрямую связано с урожайностью и качеством культур. Однако трещины внутри семян риса часто трудно обнаружить невооруженным глазом, что создает проблему для оценки качества семян риса.
В этом исследовании ученые разработали неразрушающий метод обнаружения внутренних трещин в семенах риса с использованием ближней инфракрасной спектроскопии . Они применили алгоритмы классификации машинного обучения в сочетании с методами спектральной предварительной обработки для создания моделей. Производительность моделей сравнивалась для получения оптимальной модели.
Результаты показывают, что комбинация частичной дискриминации наименьших квадратов и исходной спектральной модели данных является наиболее эффективной. Хотя лучшая модель опорных векторов показала плохие результаты, она все же превзошла модели случайного леса и k-ближайших соседей. Анализ важности длины волны показал, что ключевые переменные для обнаружения внутренних трещин в семенах риса связаны с содержанием амилозы.
По словам группы, применение этой технологии не только повышает эффективность и точность оценки качества семян риса, но и предоставляет новые технологические средства для контроля качества семян в сельскохозяйственном производстве.
